xrd全稱

"XRD" 的全稱是X射線繞射（X-Ray Diffraction）。X射線繞射是一種材料分析技術，利用物質對於X射線的繞射來研究材料的晶體結構、成分以及物理性質等。繞射是一種波動現象，當X射線射到物質上時，會與物質中的電子相互作用而發生散射和繞射現象。這些繞射線會形成一幅與物質晶格有關的繞射圖樣，稱之為繞射圖。

通過分析繞射圖，可以確定晶體的結構參數，比如晶格常數、晶胞結構、晶面指數等，進而瞭解晶體的內部結構和性質。繞射技術在材料科學、地質學、生物學和化學等領域都得到廣泛應用，可以幫助人們深入理解物質的特性和本質，是一種非常重要的分析工具。